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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | Enlitech | 應用領域 | 電子/電池 |
|---|---|---|---|
| 全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm（PTC） | 動態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB |
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SG-A 可提供最完整的CMOS圖像傳感器參數量測分析，例如全光譜量子效率（QE）、整體系統(tǒng)增益（K）、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態(tài)范圍、暗訊號非均勻性 （DSNU）、光響應非均勻性 （PRNU）、線性誤差和主光線角度 （CRA）。
待測元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測器模塊。 檢測程序符合EMVA 1288標準。
因此，SG-A CMOS影像傳感器測試儀可用于進行晶圓級光學檢查、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。 SG-A CMOS 影像傳感器測試儀的高準直光束 （< 1°） 可以克服傳統(tǒng)光學系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測難題。
這些制成包括小像素（< 1微米）、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。
● 無損光學檢測
● 高準直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°（不同型號）。
● 高均勻光斑：≥ 99%。
● 光源不穩(wěn)定度≤1%。
● 高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。
● 可測試 CMOS 圖像傳感器參數：量子效率、光譜響應、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、訊噪比、飽和容量、線性誤差 （LE）、暗電流非均勻性 （DCNU）、光響應非均勻性 （PRNU）、主光線角度 （CRA）。
● 全光譜波長范圍：300nm-1100nm 或 350nm~1000nm（依型號而定）。
● 波長可擴展至1700nm或更長。
● 待測元件封裝：CIS 模組、PCB 板級、CIS 相機，含/不含微透鏡。
● SG-A 與待測元件之間可透過「直接通訊」或「握手通訊」進行數據交換。
● 客制化測試夾具和平臺（手動或自動，最多 6 軸）。
● 功能強大的分析軟件ARGUS®。
● 應用：指紋辨識（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT陣列感測器）、CIS微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP芯片算法開發(fā)、硅基TFT感測器面板、飛行時間相機感測器、近接感測器（量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等）、d-ToF 感測器、i-ToF 感測器、多光譜感測器、環(huán)境光感測器（ALS）、屏幕下指紋識別 （FoD） 感測器。
SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀功能強大，因此相關規(guī)格和配件非常齊全
以下為主要功能規(guī)格：
● 全光譜波長范圍：300-1100nm 或 350-1000nm （PTC）
● 波長范圍可擴展至 1700nm 或更高。
● 單一波長光源：470nm、530nm、630nm、940nm （±5nm） 或定制
● 動態(tài)范圍：80dB、100dB 或 140dB
● 測試夾具：DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm（高）[Basic type] 或定制
● 平臺：非、手動 3 軸或 6 軸（手動 + 自動）平臺（可定制）
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于：
● 指紋識別：（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器）
● CIS的微透鏡設計，晶圓級光學檢查
● CIS DSP芯片的算法開發(fā)
● Si TFT傳感器面板
● 飛行時間相機傳感器
● 近距離傳感器：（量子效率、靈敏度、線性度、SNR等）
● d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
● 多光譜傳感器
● 環(huán)境光傳感器：（ALS）
● 指紋顯示（FoD）傳感器
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